V. Iii;si i.TVTS

Annem-; I. — Déterminations métrologiques, par J/.U. Benoît et Guillaume.

Détermination du mètre auxiliaire X S<)

Élude des micromètres du comparateur interféreniiel 10(1

Annexe II. — Théorie de l'appareil d'interférence

.\nnexe III. — Théorie de la Tisihilile' dex franges d'interférence et étude île di\'erses xniiri li/mineiixcs

.\nnexe l\. — L'tiide de Ui radiation hkiie. — Causes dn'crses de variations.

.\nnexe V. — Indications pour une détcrniinalion ultérieure

.\nnexe VI. — Obsen-ations

20314 PARIS. — IMPRIMERIE CAITHIER-VILLARS ET FILS, QUAI DES GRANDS-AIGISTINS, 55.