VI. Apprédationdes couleurs. Omleurs accidentelles

TABLE DES MATIÈRES

S 2. — Yision aidée des instraments gressissants 349

I. Microscopes. — Loupe. Microscope composé. Application à la mesure des indices de réfraction 349

n. Lunettes et télescopes. — lunettes astronomiques, terrestres.

Télescopes de réSexion, microscope catadioptrique 366

CHAP. VI. — STSTËXE DES ONDU- LATIONS, ET COMPARAISON A CELUI DE LtMISSION.

$ i. — Du système des ondulations 384

I. Principe du système des ondulations. — Principe d'Huyghens; des interférences. Longueur d'ondulation 384

n. Explication de la réflexion et

de la réfraction, -^ Réfracteurs

interférentiels. Influence du mou-

Tement d'un milieu sur l'étber.

Scintillation 396

m. Décomposition de la lumière.

Action sur les corps iU

5 2* — Comparaison du système de rémission à celui des ondulations 4U