‹ Traité de cristallographie géométrique et physique (volume 3)Chapitre 91 sur 164 · Y. — MESURE DES INDICES DE RÉFRACTION · texte numérisé non relu

Y. — MESURE DES INDICES DE RÉFRACTION

Lorsqu'on a déterminé, par les procédés qui ont été exposés plus haut, la position des axes optiques et les différences des trois indices principaux, les propriétés • frîré/rtn^en^^x du cristal sont connues, mais la manière dont ce cristal réfracte la lumière n*est complètement déterminée que lorsqu'on a obtenu la valeur absolue de Tun des indices. La connaissance de cet indice est d'ailleurs nécessaire pour qu'on puisse tirer parti de l 'observation de l'écartement des axes vus dans un milieu ambiant. La mesure directe d'un indice est donc toujours nécessaire; elle peut suffire à elle seule à la détermination des propriétés biréfringentes du cristaU si elle est étendue aux trois indices principaux.

i* OBSERVATION DK L*UIAGB 0*011 OBJET VD£ A TRAVERS UNE LIME

A FACES PARAIXÈLE8.

Procédé d« d«c de ChavincR. — Le procédé le plus simple pour

mesurer l'indice d'un corps taillé en lame mince à faces parallèles est celui qui a été indiqué au siècle dernier par le duc de Chaulnes.

On se sert d'un microscope dont la mise au point se fait en tournant une vis micromélrique qui permet de 'mesurer avec précision le déplacement de l'appareil. On observe, en faisant la mise au point avec soin, sur un trait très finO (flg. 144), ou tout autre

Fig. 144.

CUAP. XII. — PROCÉDÉS D'OBSERVATION. 4^1

objet délicat, placé sur le porte-objet. On recouvre ensuite ce trait fin ou cet objet par la lame transparente L d'épaisseur e, dont on veut déterminer rindice n. L*image de 0 vient se faire en un point 0' qu'il est aisé de déterminer, car, pour le rayon CE, on a

\s.r Igt

et, par conséquent, si Ton suppose O'E très voisin de la normale ON. ce qui rend i et r très petits.

On tire de là

Les choses se passeront donc comme si l'objet était relevé d'une ioii-

gueur égale à e . Il faudra ainsi, pour mettre de nouveau au point

l'objet 0, relever le microscope d'une hauteur égale à cette quantité. 1^ mesure de cette hauteur, combinée avec celle de l'épaisseur e, permettra donc de connaître n.

Application d« procédé d« dvc de CliAvhies A la nicsvre des Indices des lames cristallines. — Image d*an objet vn A travers nne lame cristalline * fnces parallèles. — Pour voir comment le

procédé du duc de Chaulnes peut être utilisé pour déterminer Tindiçe des lames cristallines, il faut étudier la façon dont se forme rimage d*un objet vu à travers une lame cristalline à faces parallèles. On doit s'attendre à ce que la double réfraction produise des effets tout particuliers.

Nous allons indiquer, d*aprés M. Stokes^ la solution-générale de la question.

Sur la surface antérieure S' de la lame (fig. 145), on donne un point 0 dont on cherche l'image après que les rayons ont traversé la lame dont la seconde surface est S. Nous imaginons la surface de l'onde dont 0 est le centre et dont les rayons vecteurs sont égaux aux vitesses de propagation. Nous ne considérons qu*une nappe de celte surface, et nous la réduisons, en la laissant semblable à elle-même, jusqu'à ce que cette nappe vienne à être tangente en N à la surface S.

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